この装置は、
オートレース補助事業
により購入した機器です。
エネルギー分散型X線分析装置(SEM)
写真:
エネルギー分散型X線分析装置(SEM)
1.機器の概要
本機器は、エネルギー分散型X線検出器(EDS)を走査電子顕微鏡(SEM)に搭載したもので、製品の開発、品質管理、不具合原因の調査に活用できます。試料に電子線を照射して、試料から放出された信号(二次電子や特性X線等)を検出することで、試料表面を拡大観察しながら、目的とする箇所の化学成分を分析することができます。
近年は部品の軽量化、小型化に伴って、微小領域の観察や分析が求められています。これに対応するため、電子線を細く絞り、微小領域の観察や分析が可能なショットキー型電子銃を搭載した装置を整備しました。
紹介ポスター
(PDF:1.4MB)
2.機器の仕様
形式
JSM-IT700HR/LA、AZtecHKL C-Nano+
検出器
二次電子検出器
反射電子検出器
エネルギー分散型X線検出器
電子後方散乱回折検出器
電子銃
ショットキー型
低真空モード
有り
加速電圧
0.5~30kV
検出可能元素
B~U
*試料の材質や大きさ等により測定の制約があります。また、試料を設置する方向
や観察位置によっても測定の可否が変わるため、事前の相談をお願いします。
3.お問合せ先
工業技術研究所 沼津工業技術支援センター 機械電子科 / 電話:055-925-1103
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