新たな表面粗さの規格群であるISO21920シリーズが令和３年に発行され、近々JISにも対応する規格が出来ることを受けて、産業界ではその変化に対応していくことが必要になると考えます。
そこで、表面粗さに関する新旧規格の違いを紹介し、同時に粗さ測定の基礎と光学部品に関する最新の形状評価事例を紹介させていただくことで、製品開発に活用してもらうため、標記セミナーを開催することといたしました。
１ 日 時：令和６年10月９日（水）午後１時30分から３時30分まで
２ 場 所：静岡県工業技術研究所 開放棟 第２プロジェクト研究室（静岡県静岡市葵区牧ケ谷2078）
３ 内 容
（１）講演「表面粗さの基礎-新旧規格の違い-」（60分）
講師：アメテック株式会社
テーラーホブソン事業部 西川 洋太 氏
（２）講演「光学部品の形状測定の最新評価事例」（30分）
講師：アメテック株式会社
テーラーホブソン事業部 三浦 直之 氏
（３）工業技術研究所の取組紹介「工業技術研究所における光干渉計を用いた表面形状評価事例」（15分）
（４）機器見学（希望者のみ）
４ 定 員：20名（先着順：申込状況により、１社からの参加人数を制限させていただく場合がございます）
５ 参加料：無料
６ 申込方法
令和６年10月３日（木）までに、「申込書（別紙１）」をＦＡＸまたはE-mailで送信してください。
ＦＡＸ：054-278-3066、E-mail：sk-ls@pref.shizuoka.lg.jp
表面粗さの規格/光学部品の最新形状評価セミナー開催の御案内 [PDF:85KB]
申込書（別紙１） [Word:12KB]
７ 問合せ先
工業技術研究所 照明音響科 栁原、木野、竹居
〒421-1298 静岡県静岡市葵区牧ケ谷2078、ＴＥＬ：054-278-3027