技術講習会「走査型電子顕微鏡の活用術～あらゆる製品・材料の 表面観察から組成分析まで～」

今年４月に開催した「走査型電子顕微鏡の技術講習会」では、コロナ渦でありながら定員を上回る出席があり、出席者の方からも好評な感想をいただきましたが、人数制限があったため一部の方にしか聴講していただけませんでした。そこで、今回、より多くの方に御参加していただけるよう、再度、Web方式で下記の通り開催させていただくことになりました。是非とも参加くださいますようご案内申し上げます。

 

                                                   記

１　日　時　　令和４年11月９日（水）　13:30～15:30

２　方　法　　Web会議システム（Webex)による配信

３　内　容　　

13:30～　開会挨拶

13:35～　「走査型電子顕微鏡SU3900の活用術」

講　師：株式会社日立ハイテクフィールディング　　　　　　西村　雅子　氏

　SEMで良好な画像を得るために必要な原理、機能をわかりやすく解説します。
　SEM観察における試料前処理についてのおさらいと、同時に納入いたしましたイオンミリングのご紹介をいたします。
　EDXについては、分析における注意点、最適なSEM条件を解説いたします。

15:15～　質疑応答

15:30　　閉　会

４　定　員　　100名　（受講票は発行致しません。定員超過の場合のみご連絡致します。）

５　参加費　　無 料

６　締　切　　令和４年10月31日（月）

 

聴講方法・お申込み方法等、詳細は下記の御案内を御覧ください。

「走査型電子顕微鏡の活用術～あらゆる製品・材料の 表面観察から組成分析まで～」御案内［Word:25KB］